안경 맞추러 갔다가 치매 위험 경고 받는다


등록: 2018.07.26

▲주로 망막 뒷 편 조직을 검사해 눈 질환의 조기 증후를 찾아내는데 사용되는 검사가 치매 발병 위험을 예측하는데도 사용될 수 있는 것으로 나타났다. (사진=이미지스톡)
▲주로 망막 뒷 편 조직을 검사해 눈 질환의 조기 증후를 찾아내는데 사용되는 검사가 치매 발병 위험을 예측하는데도 사용될 수 있는 것으로 나타났다. (사진=이미지스톡)

안경사에 의한 간단한 눈 검사만으로 치매 발병 위험이 높은지를 예측하는데 도움이 될 수 있는 것으로 나타났다.

25일 컬리지런던대 연구팀이 '신경학지'에 밝힌 40-69세 연령의 3만2000명을 대상으로 한 연구결과에 의하면 주로 망막 뒷 편 조직을 검사해 눈 질환의 조기 증후를 찾아내는데 사용되는 검사가 치매 발병 위험을 예측하는데도 사용될 수 있는 것으로 나타났다.

망막 뒷편 특히 안구광학단층촬영(Optical coherence tomography)을 사용 망막 신경층을 측정한 이번 연구결과 망막이 얇은 사람들이 기억과 논리적 장애를 가질 위험이 높은 것으로 나타났다.

참여자들을 대상으로 기억력과 반응시간, 논리력을 측정한 결과 이 같이 망막신경섬유층이 가장 얇은 사람들이 이 같은 검사 한 개 혹은 그 이상에서 실패하는 것으로 나타났다.

또한 향후 3년에 걸쳐 진행한 추적 검사에서도 점수가 좋지 않을 가능성이 두 배 높은 것으로 나타났다.

기억소실과 익숙한 일 수행 장애와 기타 다른 인지능 저하가 치매의 조기 증후일 수 있는 바 연구팀은 "눈 검사가 치매 발병 위험이 높은 사람을 미리 찾아내는데 도움이 될 수 있을 것이다"라고 강조했다.

곽경민 기자
august@mdtoday.co.kr

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